تولید فناوری اندازه‌گیری لایه نازک با دقت نانومتری

صدا و سیما شنبه 05 اردیبهشت 1405 - 14:19
یک شرکت دانش‌بنیان ایرانی، دستگاه ضخامت‌سنج لایه نازک را با استفاده از پدیده اپتیکی فرنشِل به تولید رسانده که قادر به اندازه‌گیری ضخامت لایه‌نشانی‌ها با دقت نانومتری است.

تولید فناوری اندازه‌گیری لایه نازک با دقت نانومتری

به گزارش خبرگزاری صدا و سیما ،علی صالح‌پور، مدیرعامل این شرکت دانش‌بنیان گفت: دستگاهی که در شرکت ما به تولید رسیده، دستگاه ضخامت‌سنج لایه نازک است که برای اندازه‌گیری ضخامت لایه‌نشانی‌ها با دقت نانومتری کاربرد دارد.

وی افزود: این دستگاه هم در نقش آزمایشگاه استاندارد می‌تواند مورد استفاده قرار بگیرد و هم در تجهیزات لایه‌نشانی برای به‌روزرسانی یا کالیبراسیون دستگاه‌ها کاربرد دارد.

صالح‌پور با اشاره به پیشینه این محصول افزود: ایده اولیه این دستگاه در دوران حضور ما در دانشگاه تهران و توسط دکتر توسلی مطرح شد و ما در شرکت فناوری خود آن را به یک محصول تجاری تبدیل کردیم. به همین دلیل می‌توان گفت این ایده کاملاً داخلی است، مشابه خارجی ندارد و برای آن تأییدیه ستاد نانو نیز دریافت شده است.

وی با تشریح سازوکار دستگاه اظهار کرد: بر اساس فرایند‌های اپتیکی مختلفی که برای اندازه‌گیری لایه‌های نازک وجود دارد، ما در این محصول از پدیده اپتیکی فرنشِل استفاده کرده‌ایم؛ تکنیکی که امکان اندازه‌گیری ضخامت را با دقت نانومتری فراهم می‌کند.

مدیرعامل این شرکت دانش‌بنیان در توضیح مزیت رقابتی این فناوری نیز گفت: این روش نسبت به سایر روش‌های مرسوم بسیار مقرون‌به‌صرفه‌تر است. دستگاه‌های مشابه خارجی معمولاً پنج تا ۶ برابر گران‌تر هستند، در حالی که محصول تولیدی ما با هزینه بسیار کمتر همان کارکرد را ارائه می‌دهد.

 

منبع خبر "صدا و سیما" است و موتور جستجوگر خبر تیترآنلاین در قبال محتوای آن هیچ مسئولیتی ندارد. (ادامه)
با استناد به ماده ۷۴ قانون تجارت الکترونیک مصوب ۱۳۸۲/۱۰/۱۷ مجلس شورای اسلامی و با عنایت به اینکه سایت تیترآنلاین مصداق بستر مبادلات الکترونیکی متنی، صوتی و تصویری است، مسئولیت نقض حقوق تصریح شده مولفان از قبیل تکثیر، اجرا و توزیع و یا هرگونه محتوای خلاف قوانین کشور ایران بر عهده منبع خبر و کاربران است.